鍍銀層厚度測量

鍍銀層厚度測量

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今，菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。

菲希爾X射線熒光分析法 (XRFA)：

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

菲希爾X射線熒光法（XRFA）的優(yōu)點：

• 快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）

• 分析固態(tài)，粉末或液態(tài)樣品

• 有害物痕量分析

• 高精度和準確度

• 十分廣泛的應(yīng)用

• 準確測量基材是磁性和導(dǎo)電的材料

• 樣品制備非常簡單

• 測試方法安全，沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品

• 無耗品，物超所值