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          輪廓儀

          更新時(shí)間:2025-06-02

          訪問(wèn)量:891

          廠商性質(zhì):代理商

          生產(chǎn)地址:

          簡(jiǎn)要描述:
          輪廓儀,F(xiàn)orm TalySurf(簡(jiǎn)稱:FTS) Intra型粗糙度輪廓度儀是英國(guó)泰勒霍普森有限公司在標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量室產(chǎn)品Form Talysurf系列的基礎(chǔ)上開(kāi)發(fā)的。適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和計(jì)量室使用。其前身產(chǎn)品型號(hào)為FTS Plus。
          品牌TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森價(jià)格區(qū)間面議
          產(chǎn)品種類接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類別進(jìn)口
          應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥,綜合

          輪廓儀

                   FTS Intra 既可以通過(guò)PDA 控制處理器攜帶到任何工作場(chǎng)合去工作,控制分析單元對(duì)驅(qū)動(dòng)單元可連線控制,也可紅外遙控;也可以通過(guò)與電腦的對(duì)接,測(cè)量的數(shù)據(jù)直接傳輸至計(jì)算機(jī),由 Ultra 軟件對(duì)儀器進(jìn)行控制及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的分析。作為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量室內(nèi)的檢測(cè)設(shè)備。

                  我們可以非常容易地把它從計(jì)量室?guī)У焦ぷ鞯攸c(diǎn),即使是臨時(shí)的操作員也可以非常簡(jiǎn)單地進(jìn)行操作,并得到測(cè)量結(jié)果。當(dāng)然,由于設(shè)計(jì),簡(jiǎn)而易行的操作,您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進(jìn)度,就可以完成這些您所需要的表面形狀與粗糙度的檢測(cè)。

          輪廓儀

          泰勒霍普森<strong>輪廓儀</strong>

          [主營(yíng)產(chǎn)品]fischer膜厚儀,粗糙度儀,激光干涉儀,三維掃描儀

          便攜式粗糙度儀輪廓儀圓度儀

          Surtronic 25 便攜式粗糙度儀(已停產(chǎn))車間型精密粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra565/585XL

          Surtronic DUO 粗糙度儀全自動(dòng)光學(xué)輪廓儀PGI DimensionTalyrond 595H

          Surtronic S-100系列泰勒霍音森Form Talysurf ilTalyrond 565H

          Surtronic S-116泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP Talyrond 400H

          Surtronic S-128泰勒霍普森Form Talysurf PGITalyrond 450

          Surtronic 3+ / Surtronic 3 Plus(早已停產(chǎn))光學(xué)輪廓儀Talysurf PGI OpticsSurtronic R100

          粗糙度儀配件英國(guó)Taylor Hobson PGI Matrix Talyrond 131c

           泰勒LuphoScan 260/420 HDSurtronic R50-R80

           Form Talysurf PGI NOVUSTalyMaster

            Talyrond 130

          泰勒霍普森

          CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡(jiǎn)介

          CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,具有測(cè)量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法,來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測(cè)量功能和專業(yè)的厚薄膜測(cè)量技術(shù)。

          CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測(cè)量功能,還可以提供兩種類型的膜厚測(cè)量。 近年來(lái)厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測(cè)量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA。 測(cè)量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。

          現(xiàn)在通過(guò)干涉測(cè)量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法,可以在單次測(cè)量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。


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