菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀Fischerscope X-ray

菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀Fischerscope X-ray

菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀Fischerscope X-ray

Fischerscope X-RAY菲希爾X射線測(cè)厚儀產(chǎn)品信息

名稱：Fischerscope X-RAY XDL230 菲希爾X射線測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀產(chǎn)品用途

菲希爾X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

● 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

● 測(cè)量鍍層，例如：裝飾鉻

● 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

● 測(cè)量印刷線路板

● 分析電鍍?nèi)芤?/p>

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

Fischerscope X-RAY XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

菲希爾X射線測(cè)厚儀由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學(xué)和其他研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評(píng)估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動(dòng)精益求精。