菲希爾Fischer X射線測厚儀

菲希爾Fischer X射線測厚儀

菲希爾Fischer X射線測厚儀

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL特點

菲希爾X射線測厚儀堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作

菲希爾X射線測厚儀固定光圈和固定濾光鏡

菲希爾X射線測厚儀用于1mm起大小的測量點

底部C型開槽的大容量測量艙

Fischer X射線測厚儀可編程的臺式設備，用于自動測量

Fischer X射線測厚儀標準X射線管，比例計數器  

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL典型應用領域

Fischer X射線測厚儀測量大規模生產的電鍍零件

Fischerscope x-ray防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻

Fischerscope x-ray電鍍工業中電鍍液的分析

黃金、珠寶和鐘表工業

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL應用實例：

XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。