Fischer x射線熒光測厚儀

Fischer x射線熒光測厚儀

菲希爾測厚儀射線熒光分析法 (XRFA)能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。菲希爾x射線測厚儀無論是在實驗室還是工業(yè)生產環(huán)境中，這一方法都能更好勝任，并還可以與現(xiàn)代化設備一起發(fā)揮作用。EDXRF作為一種常用測試方法，有著其突出的優(yōu)勢。Fischer x射線測厚儀它幾乎可以測量所有工藝相關元素，并且工作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數(shù)秒鐘內，很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制備，即可進行快速測量。菲希爾x射線測厚儀利用該方法，可以同時測量均質材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如此，EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害物質。

此外，X射線熒光分析是一種清潔的測量方法，測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精巧的設計，X射線不會對操作人員和環(huán)境構成任何威脅：菲希爾X射線儀器是安全可靠的

菲希爾x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237典型的應用領域有：

1，測量大規(guī)模生產的電鍍零部件

2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層

3，測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

4，全自動測量，如測量印刷線路板