Taylor Surtronic S128

Taylor Surtronic S128

Taylor Surtronic S128

泰勒霍普森Surtronic S128粗糙度儀適用于車間、工業(yè)和檢查室的運用，是高性價比的表面粗糙度測量解決方案！

泰勒粗糙度儀快速可靠的測量

輕輕的按下測量按鈕，在幾分鐘內(nèi)就能得到一個完整的可追溯的測量結果，包括可在屏幕上顯示的詳細輪廓曲線圖或者自動打印出測量結果，打印機可選。

泰勒霍普森粗糙度儀特殊設計，堅固耐用

整個機身由塑化橡膠包裹。聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，內(nèi)部有抗磨損的齒輪和軸承，以及堅固的不銹鋼驅(qū)動機構。系統(tǒng)電源是一個3000毫安時的大容量鋰聚合物電池，--次充電便可進行至少2000次測量。  

Surtronic S128現(xiàn)場測量

在現(xiàn)場檢測產(chǎn)品磨損和粗糙度的變化，預估產(chǎn)品的壽命。例如，檢測渦輪片表面租糙度的變化，作為早期缺陷和效率損失的預警信號。

無錫駿展儀器有限責任公司公司擁有雄厚的資源優(yōu)勢，擁有儀器設備“選型、采購、測量、校準、操作人員培訓、售后服務"的服務。公司銷售的儀器儀表設備，廣泛應用于工廠、企業(yè)、測量機構和科研機構。

Ra是*的zui常用的粗糙度參數(shù)。RA：表示輪廓算術平均偏差。在取樣長度內(nèi)，沿測量方向(Y方向）的輪廓線上的點與基準線之間距離值的算術平均值。

rp.Rp：表示zui大輪廓波峰高度。在取樣長度內(nèi)，大的輪廓zui高峰頂線和低谷底線之間的距離。當分析一個以上的取樣長度時，Rp是每個樣品的單個Rp值的平均值。

RSm。rsm是在取樣長度內(nèi)測量的平均線處輪廓峰之間的平均間距。（輪廓峰是輪廓的zui高點，位于平均線的上下交叉點之間）。

RZ。Rz=Rp+Rv，是分析一個以上采樣長度時，一個采樣長度內(nèi)剖面的zui大峰谷高度Rz是每個采樣長度的單個Rz值的平均值。

Rz1zui大值。在取樣長度范圍內(nèi)，剖面的大峰谷高度。在多個采樣長度上測量時，取zui大的單個采樣長度值。過去也被稱為Rymax、Ry、Rmax或RTI