Fischer熒光射線測厚儀XAN252

Fischer熒光射線測厚儀XAN252

Fischer熒光射線測厚儀XAN252

菲希爾XAN252高性能X射線熒光測量儀，配有硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

菲希爾XAN252特點

菲希爾XAN252高性能機型，具有強大的綜合測量能力

fischer XAN252配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

fischer XAN252配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

fischer XAN252由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位  

菲希爾熒光射線測厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

菲希爾熒光射線測厚儀對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

菲希爾熒光射線測厚儀對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

fischer代理在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

fischer代理用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

Fischer XAN500采用*的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

使用Fischer XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。設(shè)計結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。