測試印刷電路板的專業(yè)XRF系列菲希爾代理

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FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

對于簡單的測量和抽查，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB是理想的XRF儀器。作為一款強大的入門級儀器，該XRF光譜儀配備了一個比例計數(shù)管檢測器，這使得測量時間很短。

用于標準應用的鎢制微焦管

最小的測量點?約0.15毫米

用于分析從鉀（19）到鈾（92）元素的比例計數(shù)器管檢測器

費舍爾公司：DCM方法，可簡單快速地調整測量距離

固定的、寬大的樣品臺，用于印刷電路板，最大尺寸為610 x 610 mm (24" x 24")

最大樣品高度為90毫米

*受保護的儀器，根據(jù)德國輻射保護法獲得型號認證

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB也配備了一個比例計數(shù)管。然而，這臺XRF儀器有各種準直器和過濾器，因此您可以為您的任務創(chuàng)造最佳的測量條件。在基本配置中，它有一個拉出式樣品臺，這簡化了PCB的定位。根據(jù)要求，還可以提供一個可編程的XY平臺，用于自動測量。

用于標準應用的鎢微焦管

可選擇4倍可更換的光圈，以優(yōu)化測量條件

可選擇3倍可更換的過濾器，為更復雜的任務提供更好的激發(fā)條件

最小的測量點?約0。 15 mm

比例計數(shù)管探測器，用于分析從鉀(19)到鈾(92)的元素

手動提取或可編程的測量平臺，用于印刷電路板，最大尺寸610 x 610 mm (24" x 24")

最大樣品高度。5毫米

費舍爾：DCM方法，用于簡單快速地調整測量距離

根據(jù)德國輻射防護法，作為*受保護的儀器進行單獨驗收

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

與XULM-PCB和XDLM-PCB相比，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB配備了一個高靈敏度的硅漂移探測器（SDD）、不同的孔徑和過濾器。這也為按照ENIG和ENEPIG方法進行測試創(chuàng)造了最佳的測量條件。在其基本配置中，該儀器有一個彈出式樣品臺，簡化了PCB的定位。根據(jù)要求，它可以配備一個用于大型PCB的樣品臺擴展。

鎢或鉻微焦管

4倍可更換光圈，用于優(yōu)化測量條件

3倍可更換濾光片，用于更復雜任務的最佳激發(fā)條件

最小的測量點?約0。 15 mm

硅漂移檢測器（SDD）用于分析從鋁（13）到鈾（92）的元素

Fischer。DCM方法用于簡單而快速地調整測量距離

手動抽拉式平臺，適用于610 x 610 mm (24" x 24")的印刷電路板

最大樣品高度為10 mm

根據(jù)德國輻射防護法，作為*保護的儀器進行單獨驗收

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

在高可靠性的應用中，印刷電路板是質量關鍵性的部件。在這種情況下，要采用符合ENIG和ENEPIG工藝的涂層。由于這些工藝中最薄的涂層厚度在40至100納米之間，比例計數(shù)器管的精度已不足以監(jiān)測該工藝。這就是FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB的正確選擇。高靈敏度的硅漂移檢測器（SDD）和多毛細管光學器件的結合，可以對尺寸小于50微米的結構進行精確測量。

特別是在處理非常小的結構時，如果要檢查大量的隨機樣品，單獨選擇每個測量位置會花費很多時間。但是通過費舍爾實施的圖像識別軟件，你可以省去這種努力。只需存儲圖像的一個部分。XDV-µ PCB就會搜索相應的結構，并自動測量它們。

帶鎢或鉬的微焦管

4倍可改變光圈，用于優(yōu)化測量條件

4倍可改變?yōu)V光片，用于更復雜任務的最佳激發(fā)條件

多毛細管光學器件，用于非常小的測量點?約。20或10微米

硅漂移探測器（SDD），用于分析從鋁（13）到鈾（92）的元素

可編程測量平臺，可選擇帶真空支架的FLEX PCB

最大樣品高度< 4-5毫米

根據(jù)德國輻射防護法，作為*保護儀器進行單獨驗收