更新時(shí)間：2025-05-29
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廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池 |
菲希爾渦流法探頭FA30
菲希爾渦流法探頭FA30
德國(guó)菲希爾ISOSCOPE FMP30渦流法測(cè)厚儀適合于需要一款獨(dú)立的電渦流儀器帶全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，輸出和打印功能的使用者。能存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式中4,000個(gè)數(shù)據(jù)組中的20,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。配備有一個(gè)*的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，應(yīng)用程式號(hào)，組號(hào)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。
ISOSCOPE MP30氧化膜測(cè)厚儀具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。自動(dòng)的求平均功能降低了測(cè)量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。
菲希爾測(cè)厚儀探頭
菲希爾測(cè)厚儀探頭
型號(hào) | DELTASCOPE FMP10 | ISOSCOPE FMP10 |
測(cè)量原理 | 磁性測(cè)厚法，能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量 | 電渦流法測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 |
探頭型號(hào) | FGAB1.3磁感應(yīng)探頭 | FTA3.3H電渦流探頭 |
測(cè)量范圍μm | 0 ～ 1500μｍ 測(cè)量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。 | 0 ～ 1 200μｍ 測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% |
重量 | 230g | 230g |
規(guī)格 | (160 x 80 30) | (160 x 80 x 30) |
探頭型號(hào) | V1FGA1HR34 （604-183） | |
帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測(cè)量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部。手柄到測(cè)量元件的長(zhǎng)度為100mm，亦即可測(cè)量的距離。 測(cè)量原理：磁感應(yīng) |
探頭 | DELTASCOPE | DUALSCOPE | ISOSCOPE | 可儲(chǔ)存的應(yīng)用程式數(shù)量 | 統(tǒng)計(jì)，評(píng)估 | 測(cè)量方式 |
可更換 | DELTASCOPE FMP30 | DUALSCOPE FMP40 | ISOSCOPE FMP30 | 100 | • 顯示統(tǒng)計(jì)值（讀數(shù)數(shù)量/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/最大和最小值、讀數(shù)范圍）和比值 • 上下限公差監(jiān)控 • 圖形計(jì)算 | •單次測(cè)量 •連續(xù)測(cè)量 •區(qū)域測(cè)量 |
DELTASCOPE FMP10 | DUALSCOPE FMP20 | ISOSCOPE FMP10 | 1 | • 顯示統(tǒng)計(jì)值（讀數(shù)數(shù)量/平均 值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/最大和最小值/讀數(shù)范圍） | 單次測(cè)量 | |
磁感應(yīng)法 （DIN EN ISO 2178） | 渦流法 和 磁感應(yīng)法 | 渦流法 （DIN EN ISO 2360） | ||||
厚度的測(cè)量范圍取決于所使用的探頭。 涂鍍層厚度測(cè)量的總范圍一般在0-30 mm | ||||||
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