菲希爾X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237

 菲希爾X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237

FischerXDLM232

FischerXDLM232

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今，菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對儀器準確度，精度和可靠性的要求。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。
裝備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它能夠很便當?shù)貟呙柰獗?這樣就能夠檢查其平均性。為了簡單快速定位樣品，當丈量門開啟時, XY工作臺自動挪動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。關(guān)于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有啟齒(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置便當，儀器不只能夠丈量平面平整的物體,也能夠測星外形復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器，丈量間隔還能夠在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自在選擇,這樣就能夠測星腔體內(nèi)部或外表不平整的物體(DCM辦法)。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

菲希爾X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237