菲希爾代理X射線測厚儀XDL230簡介

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線測厚儀是一款高精密能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）檢測設(shè)備，以下從其測量原理、性能優(yōu)勢、硬件配置、軟件系統(tǒng)、應(yīng)用領(lǐng)域等方面進行介紹：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線測厚儀測量原理：

X 射線熒光光譜法：基于 X 射線熒光光譜分析技術(shù)，設(shè)備通過 X 射線源發(fā)射初級射線激發(fā)樣品，使元素原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生特征 X 射線熒光。探測器精準(zhǔn)捕獲熒光的能量與強度數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)對元素成分、鍍層厚度的定量分析。

基本參數(shù)法（FP 法）：內(nèi)置 12 純元素頻譜庫（Ag、Cu、Fe、Ni、Zn、Zr、Mo、Sn、W、Au、Pb、Cr），無需標(biāo)準(zhǔn)片即可對鍍層系統(tǒng)、固體和液體樣品進行測量和分析，同時具備 MQ 值顯示，用于判斷測量程式與樣品匹配度，防止誤操作。