菲希爾XAN250 X射線測厚儀信息

　　FISCHERSCOPE XAN 250菲希爾X射線熒光測量儀概述：

　　高性能X射線熒光測量儀，配有非常先進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

　　FISCHERSCOPE XAN 250菲希爾X射線熒光測量儀特點：

　　高性能機型，具有強大的綜合測量能力

　　配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

　　配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

　　由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

　　FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域：

　　對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

　　對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

　　在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

　　用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域