泰勒霍普森粗糙度儀|SURTRONIC DUO產品介紹

泰勒霍普森粗糙度儀|SURTRONIC DUO產品介紹

Surtronic Duo便攜式表面粗糙度測量儀技術指標：

分辨率： 0.01μm（0.4μin）

量程（Ra）： zui大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：zui大值199μm（7800μin）

重復性： 示值的2% + 噪聲

精度： 讀數的5% + 0.1μm（4μin）

噪聲： 0.02μm（0.8μin）

標準： ISO4287

參數： Ra、Rz、Rv、Rp、Rt、Rz1mzx、Rsk、Rq、Rku，Pa、Pz、Pv、Pp、Pt

傳感器類型： 壓電式

測針類型： 金剛石，半徑5μm（200μin）

測量力： 200mg

測量類型： 導塊式

濾波器類型： 高斯濾波

取樣長度： 0.8mm

驅動長度： 5mm（0.2in）

驅動速度： 2mm/秒（0.08in/秒）

單位： μm、μin

電池： 鋰充電電池

充電時間： 4小時

充電器： 輸入 交流110-240V 50/60Hz 輸出 Mini USB 5V 1A 待機到工作狀態： ≤5秒

自動休眠： 5分鐘

操作環境： 溫度：0-40℃ 濕度：0-80%非冷凝

存儲環境： 溫度：0-50℃ 濕度：0-80%非冷凝